Reliability for Logic and Memory Technologies
1999
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-5303-9 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-5303-9 (ISBN)
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This video, recorded at the December 1998 International Electronic Device Meeting, presents detailed discussions of the major reliability issues that face IC technology development and manufacturing as it enters the Giga-Scale era.
| Erscheint lt. Verlag | 28.2.1999 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Mathematik / Informatik ► Informatik ► Theorie / Studium |
| Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
| ISBN-10 | 0-7803-5303-X / 078035303X |
| ISBN-13 | 978-0-7803-5303-9 / 9780780353039 |
| Zustand | Neuware |
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