Kompakte Einführung in die Elektronenmikroskopie - Goerg H. Michler

Kompakte Einführung in die Elektronenmikroskopie

Techniken, Stand, Anwendungen, Perspektiven
Buch | Softcover
XI, 54 Seiten
2019 | 1. Aufl. 2019
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH (Verlag)
978-3-658-26687-5 (ISBN)
14,99 inkl. MwSt
Goerg Michler fasst das große Gebiet der Elektronenmikroskopie zusammen und stellt die verschiedenen Techniken übersichtlich dar. Der Autor beschreibt anschaulich die Einsatzmöglichkeiten der Mikroskopie und die Anforderungen an eine Probenpräparation. Mit Bildbeispielen aus der Praxis illustriert er die Darstellungen.

Der Autor:

Prof. Dr. rer. nat. habil. Goerg H. Michler war Leiter des Instituts für Werkstoffwissenschaften an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, ist Ehrenvorsitzender des Instituts für Polymerwerkstoffe e.V. und Vorsitzender der Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie.

Prof. Dr. rer. nat. habil. Goerg H. Michler war Leiter des Instituts für Werkstoffwissenschaften an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, ist Ehrenvorsitzender des Instituts für Polymerwerkstoffe e.V. und Vorsitzender der Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie.

Entwicklungsgeschichte und Richtungen der Elektronenmikroskopie.- Probenpräparationen (Ätztechniken, (Kryo-)Ultramikrotomie).- Bildverarbeitung und Bildbeispiele.

Erscheinungsdatum
Reihe/Serie essentials
Zusatzinfo XI, 54 S. 42 Abb., 10 Abb. in Farbe.
Verlagsort Wiesbaden
Sprache deutsch
Maße 148 x 210 mm
Gewicht 101 g
Themenwelt Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie
Naturwissenschaften Chemie Physikalische Chemie
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Festkörperphysik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Thermodynamik
Schlagworte Ätztechniken • Bildentstehung und Bildkontrast • Bildverarbeitung in der Mikroskopie • Elektronenmikroskopie • Emissions-Elektronenmikroskopie • In-situ-Mikroskopie • Kryo-Ultramikrotomie • Proben-Präparationstechniken • Raster-Elektronenmikroskopie • Raster-Sondenmikroskopie • Reflexions-Elektronenmikroskopie • REM • TEM • Transmissions-Elektronenmikroskopie
ISBN-10 3-658-26687-2 / 3658266872
ISBN-13 978-3-658-26687-5 / 9783658266875
Zustand Neuware
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