1999 IEEE Reliability Physics Symposium
Seiten
1999
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1999 ed.
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-5223-0 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-5223-0 (ISBN)
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This collection from the 1999 International Reliability Physics Symposium, includes work that identifies microelectronic failure of degeneration mechanisms, improves understanding of existing failure mechanisms, and demonstrates innovative analytical techniques and ways to build in reliability.
| Erscheint lt. Verlag | 31.10.1999 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| Technik ► Maschinenbau | |
| ISBN-10 | 0-7803-5223-8 / 0780352238 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-5223-0 / 9780780352230 |
| Zustand | Neuware |
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