Sub-100nm Cmos
2000
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-6137-9 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-6137-9 (ISBN)
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This videotaped tutorial begins by reviewing historic trends in CMOS device scaling and identifying the characteristics and requirements of sub-100nm transistors, including both device and circuit considerations, and gate oxide scaling and scaling source/drain regions and optimizing well profiles.
| Erscheint lt. Verlag | 31.3.2000 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-7803-6137-7 / 0780361377 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-6137-9 / 9780780361379 |
| Zustand | Neuware |
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