Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE

Peter Baumann (Autor)

Buch | Softcover

XI, 187 Seiten

2019 | 2., erw. Aufl. 2019
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH (Verlag)
978-3-658-26573-1 (ISBN)

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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Peter Baumann

2023, 3. Auflage

Buch | Softcover

39, ⁹⁹ €

zur Neuauflage

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

Prof. (em.) Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Ausgewählte Kapitel der Elektrotechnik an der Hochschule Bremen.

Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.- Mos-Feldeffekttransisotoren.- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.-NTC- und PTC-Sensoren.-RGB-Farbsensor.-Piezoelektrische Summer.-Ultraschallwandler.

Erscheinungsdatum	28.11.2019
Zusatzinfo	XI, 187 S. 194 Abb.
Verlagsort	Wiesbaden
Sprache	deutsch
Maße	168 x 240 mm
Gewicht	347 g
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte	Bauelement • Bipolartransistor • Buch • Diode • Elektronik • Elektrotechnik • Feldeffekttransistor • FET • Halbleiter • Halbleiterdiode • Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor • MOS-Feldeffekttransistor • MOS-FET • Operationsverstärker • Optokoppler. • OrCAD-PSPICE • Sperrschicht-Feldeffekttransistor • Sperrschicht-Feldeffekttransistoren • SPICE-Modellparameter • Transistor
ISBN-10	3-658-26573-6 / 3658265736
ISBN-13	978-3-658-26573-1 / 9783658265731
Zustand	Neuware